رسبتْ أغشية رقيقة من الكادميوم تيلورايد (CdTe) على ركازات من الزجـاج بثخانـات مختلفـة
بطريقة التبخير الفيزيائي الحراري (evaporation thermal). الثخانات الهندسـية للأغـشية جـرى
حسابها من طيف الانعكاس للأغشية، و درست الخواص البنيوية و التوجه البلوري لهذه الأغشية بتحليـل
انعراج الأشعة السينية (XRD) و حددت وسطاء البنية مثل ثابت الشبيكة البلورية (a) و كثافة الانخلاعات
(δ) و عامل الإجهاد (ε), و أبعاد الحبيبات (D), و لوحظ ازدياد الأبعاد الحبيبيـة و نقـصان فـي الإجهـاد
المكروي و كثافة الإنخلاعات بازدياد ثخانة الغشاء المرسب. و تبين أن الأغشية ذات بنية مكعبة مركزيـة
الوجوه، و حدد التوجه البلوري المفضل للغشاء و الحبيبات المتشكلة عليه فكـان الوجـه (111) موازيـاً
لسطح الركازة. كما استخدمنا مقياس الطيف في الدراسة الضوئية، و لاحظنا تزايداً في عامل الامتـصاص
بزيادة ثخانة الغشاء و تناقصاً في عرض فجوة الطاقة بازدياد الثخانة.
CdTe Thin films were deposited on glass substrates by thermal evaporation
method. The geometric thickness was calculated using interferometric method
based on reflectance curve recorded with the spectrophotometer. The XRD
analysis and optical characterizations of CdTe films with different optical
thicknesses reveals that the structure of the films is polycrystalline with
preferential orientation (111). The structure constant (a), crystallite size (D),
dislocation density (δ) and strain (ε) were calculated, and it is observed that the
crystallite size increases but micro-strain and dislocation density decreases with
increases in thin film thickness. The overall absorbance has been increased with
the film thickness and the direct band gap was obtained. It decreases with the
increase in the thickness of the films.
Artificial intelligence review:
Research summary
تتناول هذه الدراسة الخصائص البنيوية والضوئية لأغشية رقيقة من الكادميوم تيلورايد (CdTe) التي تم ترسيبها على ركائز زجاجية باستخدام طريقة التبخير الحراري. تم حساب السماكة الهندسية للأغشية باستخدام طريقة التداخل الضوئي بناءً على منحنى الانعكاس المسجل بواسطة المطياف الضوئي. أظهرت تحليلات حيود الأشعة السينية (XRD) والخصائص الضوئية للأغشية ذات السماكات المختلفة أن هذه الأغشية متعددة البلورات مع تفضيل اتجاه (111). تم حساب ثابت الشبكة البلورية (a)، حجم البلورات (D)، كثافة الانخلاعات (δ)، والإجهاد الميكروي (ε). لوحظ أن حجم البلورات يزداد بينما تقل كثافة الانخلاعات والإجهاد الميكروي مع زيادة سماكة الأغشية. كما أظهرت الدراسة زيادة في الامتصاص الكلي مع زيادة سماكة الأغشية، وتم تحديد فجوة الطاقة المباشرة والتي تقل مع زيادة سماكة الأغشية. تم استخدام مطياف ضوئي لدراسة الخصائص الضوئية، ولوحظ زيادة في الامتصاص مع زيادة سماكة الأغشية وتناقص في عرض فجوة الطاقة مع زيادة السماكة. النتائج التي تم الحصول عليها تتفق مع القيم المبلغ عنها سابقاً.
Critical review
تعتبر هذه الدراسة إضافة قيمة إلى مجال دراسة الأغشية الرقيقة من الكادميوم تيلورايد، حيث تقدم معلومات مفصلة حول الخصائص البنيوية والضوئية لهذه الأغشية. ومع ذلك، يمكن تقديم بعض الملاحظات النقدية لتحسين الدراسة. أولاً، كان من الممكن أن تكون الدراسة أكثر شمولية إذا تم تضمين مقارنة مع تقنيات ترسيب أخرى غير التبخير الحراري، مثل الترسيب الكيميائي أو الترسيب بالليزر. ثانياً، لم يتم التطرق بشكل كافٍ إلى التطبيقات العملية لهذه الأغشية في الأجهزة الإلكترونية أو الخلايا الشمسية، مما يحد من فهم القارئ للفوائد العملية لهذه الدراسة. وأخيراً، كان من الممكن تحسين الدراسة بإضافة تحليل أكثر تفصيلاً للعوامل التي تؤثر على الخصائص الضوئية والبنيوية للأغشية، مثل تأثير درجة الحرارة أو نوع الركيزة المستخدمة.
Questions related to the research
-
ما هي الطريقة المستخدمة لترسيب أغشية CdTe في هذه الدراسة؟
تم استخدام طريقة التبخير الحراري لترسيب أغشية CdTe على ركائز زجاجية.
-
ما هو تأثير زيادة سماكة الأغشية على حجم البلورات وكثافة الانخلاعات؟
يزداد حجم البلورات بينما تقل كثافة الانخلاعات مع زيادة سماكة الأغشية.
-
ما هي الخصائص الضوئية التي تمت دراستها في هذه الأغشية؟
تم دراسة الامتصاص، معامل الانكسار، معامل الانقراض، وفجوة الطاقة الضوئية للأغشية.
-
ما هو التوجه البلوري المفضل للأغشية المرسبة؟
التوجه البلوري المفضل للأغشية المرسبة هو (111).
References used
Cheng, J., Fan, D. Wang, H., Liu. B. W. (2003). Semicond. Sci. Technol. 18, 676
Shaaban, E. R., Afify, N., El-Taher. (2009). Effect of film thickness on microstructure parameter and optical constants of CdTe thin films Journal of Alloys and Compounds 482 , 400-404
Laitha, S., Karazhanov, S. Zh., Ravindran, P., Senthilarasu S. and all…., (2007). Electronic structure, structural and optical properties of thermally evaporated CdTe thin films. Physica B 38, 227-238
CdTe Thin films were deposited on silicon substrates by thermal
evaporation method. The geometric thickness was calculated using
interferometric method based on reflectance curve recorded with the
spectrophotometer. The Reflection of High-Energy E
In this work, it has been recording the alpha particles emitted from an Amerecium-241 source, and scattered by a gold and Aluminum thin foils as a function of the scattering angle q (0o-30o), using a semiconductor detector and Rutherford scattering c
In this paper we present the structural, optical and electrical characteristics of ZnO thin films grown for different parameters by the atomic layer deposition (ALD) method. The films were grown on glass and silicon substrates at low temperatures. We
In this work, we have used the basic techniques for measuring gamma rays. It is
based on the use of a sodium iodide (NaI) detector withthallium activated (Tl). We have
obtained:
The detector calibration NaI(Tl) and the resolution of the spectrom
Slabs are considered one of the most exposed elements to disasters and deformities
that can be clear to the viewer. These deformities are reflected as sign of defects that
appear clearly on big slabs. So, here comes the importance of applying and d