Do you want to publish a course? Click here

Proposed Correction of Calculated physical Quantities for Multi-Layer Thin Films (One-Dimensional Photonic Crystals)

تصحيحات مقترحة على علاقات الخواص الفيزيائية لأغشية رقيقة متعددة الطبقات من مواد عازلة

1482   0   29   0 ( 0 )
 Publication date 2013
  fields Physics
and research's language is العربية
 Created by Shamra Editor




Ask ChatGPT about the research

There has been much interest in photonic and spectroscopic devices that are useful for controlling transmission and reflection coefficients such as multilayer thin films, photonic crystals, and various Bragg structures in the form of molds or multilayer thin films.


Artificial intelligence review:
Research summary
تتناول هذه الورقة البحثية الخصائص الطيفية للأغشية الرقيقة متعددة الطبقات المصنوعة من مواد عازلة مختلفة مثل TiO2/SiO2، TiO2/MgF2، وZrO2/MgF2. تم تصنيع هذه الأغشية كبلورات فوتونية أحادية البعد تتكون من 8، 10، 12، 14، و16 طبقة. تم استخراج ثلاث كميات مهمة من الأطياف التجريبية لكل عينة وهي λo، Rmax، وΔλ. أظهرت التحليلات وجود تباين بين القيم التجريبية والنظرية لهذه الكميات، مما دفع الباحثين إلى اقتراح تصحيحات للمعادلات المنظمة لهذه الكميات. تم تصنيع العينات باستخدام تقنية التبخير تحت الخلاء وتم قياس الثخانة باستخدام حساس الكوارتز. أظهرت النتائج التجريبية اختلافات واضحة مع النتائج النظرية، مما استدعى إجراء تعديلات رياضية على المعادلات المستخدمة لتحقيق توافق أفضل بين القيم التجريبية والنظرية.
Critical review
دراسة نقدية: على الرغم من أن الورقة تقدم مساهمات مهمة في مجال دراسة الأغشية الرقيقة متعددة الطبقات والبلورات الفوتونية، إلا أن هناك بعض النقاط التي يمكن تحسينها. أولاً، لم يتم توضيح الأسباب الدقيقة للتباين بين القيم التجريبية والنظرية بشكل كافٍ. كان من الممكن أن تكون الدراسة أكثر شمولاً إذا تم استكشاف العوامل المحتملة التي قد تؤدي إلى هذه الاختلافات. ثانياً، كان من المفيد تضمين مزيد من التفاصيل حول الطرق التجريبية المستخدمة لضمان إمكانية تكرار التجارب من قبل باحثين آخرين. وأخيراً، كان من الممكن تحسين الورقة من خلال تقديم تحليل أعمق للنتائج وتوضيح كيف يمكن للتصحيحات المقترحة أن تؤثر على التطبيقات العملية لهذه الأغشية.
Questions related to the research
  1. ما هي المواد العازلة المستخدمة في تصنيع الأغشية الرقيقة في هذه الدراسة؟

    المواد العازلة المستخدمة هي TiO2/SiO2، TiO2/MgF2، وZrO2/MgF2.

  2. ما هي الكميات الثلاث المهمة التي تم استخراجها من الأطياف التجريبية؟

    الكميات الثلاث المهمة هي λo، Rmax، وΔλ.

  3. ما هي التقنية المستخدمة لتصنيع العينات في هذه الدراسة؟

    تم تصنيع العينات باستخدام تقنية التبخير تحت الخلاء.

  4. ما هو السبب الرئيسي الذي دفع الباحثين إلى اقتراح تصحيحات للمعادلات المنظمة؟

    السبب الرئيسي هو وجود تباين بين القيم التجريبية والنظرية للكميات المدروسة.


References used
Joannpoulos, J. D, Meade R. D, Winn J. N. (2008). 2nd Ed, Molding the flow of light, Photonic Crystals, Princeton university press
Inou K, Ohtaka K. (2004). Photonic crystals, Physics Fabrication and Application
Ecole de Palmyre, Optical applications of thin films, Bruno PALPANT, Laboratoire d’Optique des Solides, (CNRS, February 2003) - Université Pierre et Marie Curie Paris
rate research

Read More

Photonic crystals is a low-loss periodic medium with periodic changes of refractive index, which is used to control the light. Theoretically, Photonic crystals can be studied using Maxwell equations, but it’s difficult to find a general analytical solution for these equations, since we are dealing with vectors. So we resort to the numerical solutions for Maxwell’s equations to calculate the reflection and transmission coefficients and the Photonic band gap.
CdTe Thin films were deposited on silicon substrates by thermal evaporation method. The geometric thickness was calculated using interferometric method based on reflectance curve recorded with the spectrophotometer. The Reflection of High-Energy E lectron Diffraction (RHEED) patterns and XRD analysis reveals that the structure of the films are polycrystalline with preferential orientation (111). The structure constant (a), crystallite size (D), dislocation density (δ) and strain (ε) were calculated, and it is observed that the crystallite size increases but micro-strain and dislocation density decreases with increases in thin film thickness. The composition of the samples was determined by Energy Dispersive X-ray Analysis (EDX) and it is found that the wt.% of Cd increases and the wt.% of Te decreases with the increases of film thickness due to the re-evaporation of Te.
In this paper we present the structural, optical and electrical characteristics of ZnO thin films grown for different parameters by the atomic layer deposition (ALD) method. The films were grown on glass and silicon substrates at low temperatures. We used diethyl-zinc (DEZn) and deionized water as zinc and an oxygen sources, respectively. Measurements of surface morphology, photoluminescence at room temperature (RT PL) and Hall Effect were made for ZnO layers. The films obtained at 130°C show the highest carrier concentration (1.1×1019 cm-3) and the lowest resistivity (2.84×10-2 Wcm). The films exhibit mobility up to 19.98 cm2/Vs that we associate to the technological process used.
This paper contains the following concepts: definitions about polaron, concepts of polarons, large polaron, small polaron, and development of quantum theory for electron self-action potential in a system consisting of three contact different semi-c onductor thin layers, finding polaron potential energy, and studying the case in which an electron is located inside the thin layer or on its surface. Studying the effect of dielectric anisotropy of layers on electron-(hole) potential energy in the above mentioned thin layers.

suggested questions

comments
Fetching comments Fetching comments
Sign in to be able to follow your search criteria
mircosoft-partner

هل ترغب بارسال اشعارات عن اخر التحديثات في شمرا-اكاديميا