AFM has been used to get microscopic information of the surface structure
and to plot topographies representing the surface relief. AFM technique can be
used to visualize the surface relief, specify the growth of thin films, and
determine Height parameters.
الخشونة
التموج
جذر متوسط مربع الارتفاعات
العزم الإحصائي الثالث
الانحراف عن التناظر
العزم الإحصائي الرابع
وصف التفلطح
المتوسط الحسابي للارتفاعات
كثافة القمم
المتوسط الحسابي لانحناءات القمم
(Roughness (R
(Waviness (W
(Root Mean Square height (RMS
Surface Skewness
Surface Kurtosis
Arithmetical mean height
Density of peaks and Arithmetic mean peak curvature
المزيد..