نتطرق في هذا المقال إلى تحضير أغشية رقيقة من كبريت الرصاص PbS ذات حبيبات بلورية بأبعاد
نانوية على ركائز من الزجاج باستخدام طريقة التوضيع في الحوض الكيميائي. قمنا بهذا العمـل بهـدف
دراسة الفوتوناقلية في الأغشية الرقيقة من نصف الناقل PbS .نعرض في هذا المقال تفاصـيل عمليـة
التحضير. قيست سماكة الأغشية المترسبة باستخدام الطريقتين الميكانيكية و الضوئية. كما حـددنا قيمـة
القطاع المحظور اعتماداً على قياسات الامتصاصية الضوئية. كذلك قُدر قطر الحبيبات البلوريـة النانويـة
للأغشية التي رسبت باستخدام التقريب الأول لنموذج العصابات ذات القطع المكافئ، و قيم القطاع المحظور التي تم الحصول عليها. كذلك قمنا بدراسة السلوك الكهربائي و الفوتوناقلية للأغشية المذكورة، فدراسـتنا تُظهر أن حجم الحبيبات البلورية في غشاء PbS يؤثر في الخصائص الكهرضوئية للمـادة المدروسـة. كذلك استنتجنا أن أغشيتنا مكونة من طبقتين مختلفتين بحجم الحبيبات: الطبقة الأولى هـي طبقـة PbS المترسبة مباشرةً على ركيزة الزجاج و قطر حبيباتها نحو 25nm ،أما الطبقة الثانية فهـي طبقـة PbS المترسبة فوق الطبقة الأولى و قطر حبيباتها حوالي 70nm.
In this paper we present the preparation of PbS nanocrystalline thin films
using Chemical Bath Deposition (CBD) technique. We have performed this
work in order to study the photoconductivity of PbS semi-conductor thin films.
The details of the preparation method are described. Thickness of deposited
films has been determined using mechanical and optical methods. From the
optical absorption measurements we have determined the band gap values.
Using the first approximation parabolic bands model and the obtained values
of band gaps, we have determined the size of PbS nanocrystallites. Also, we
have investigated the electrical and photoelectrical behaviors of the PbS films.
Our study shows that the size of PbS thin films nanocrystallites affects the
photoconductive properties of the material. Furthermore, investigations show
that there are two different sizes of grains located in two different layers, the
first one, with grain’s size of about 25nm, concerns the part of PbS deposited
directly on the glass substrate and the second layer, with grain’s size of about
70nm, concerns the PbS deposited on the first layer.
المراجع المستخدمة
Blount G. H., Schreiber P. J., Smith D. K., and Yamada R. T. (1973). Variation of the properties of chemically deposited lead sulfide film with the use of an oxidant. J. Appl. Phys. 44, pp. 978-981
Espevik S., Wu C., and Bube R. H. (1971). Mechanism of Photoconductivity in Chemically Deposited Lead Sulfide Layers. J. Appl. Phys. 42, pp. 3513- 3529
Johnson T. H. (1984). Lead Salt Detectors and Arrays: PbS and PbSe. Proc . SPIE 443, pp. 60-94
تملك أغشية أكسيد القصدير استخدامات واسعة، و خصوصاً في مجـال النواقـل الـشفافة و الخلايـا
الشمسية و مستشعرات الغاز و المواد ذات الكهربائية الإجهادية، و يعد الترسيب بواسطة الليزر مـن أهـم
الطرائق المتبعة للحصول على هذه الأغشية. قمنا في هذا البحث بتطو
رُسبت أفلام رقيقة ناقلة شفافة (TCOs) من أكسيد القصدير المُشاب بالمنغنيز عند درجة
حرارة ركيزة 450° C بطريقة البخ الحراري. تمت مُناقشة الخصائص البنيوية للأفلام بتابعية
سوية الإشابة لممنغنيز (0, 1 , 3 , 5 ,7 wt%) بينما جميع متغيرات الترسيب مثل: درج
نقدم في هذه الورقة الخصائص البنيوية و الضوئية و الكهربائية لأفلام رقيقة من أكسيد الزنك تمت تنميتها من أجل بارامترات مختلفة بوساطة طريقة الترسيب الذري الطبقي (ALD). و قد نميت هذه الأفلام على ركائز من الزجاج و السيلكون عند درجات حرارة منخفضة. استخدمنا
يسمح مجهر القوة الذرية بالحصول على معلومات مجهرية عن بنية سطوح الأغشية و برسم صور لطبوغرافيتها تمثل تضاريس السطح، و مراقبة نمو الأغشية الرقيقة و تحديد برامترات الخشونة. قمنا في هذا العمل بدراسة برامترات الخشونة للسطح و معالمه.
نناقش في هذا البحث، تأثير العيوب النقطية على الخصائص الكهربائية و الضوئية لأفلام رقيقة من أكسيد الزنك تم تنميتها بطريقة الترسيب الذري الطبقي على ركائز من الزجاج و السيلكون عند درجة حرارة منخفضة (100°C). أنجزت قياسات أطياف التألق الضوئي عند درجة حرارة